yieldWerx

yieldWerx là nền tảng quản lý và phân tích năng suất (yield) bán dẫn, thu dữ liệu các giai đoạn chế tạo wafer, kiểm thử probe, đóng gói và kiểm thử cuối cùng vào chung một kho, rồi tìm ra các mẫu tổn thất năng suất.

Tính năng nổi bật và tình huống áp dụng

Giá trị cốt lõi của nó nằm ở "xuyên giai đoạn". Vấn đề năng suất bán dẫn thường không nằm ở một trạm đơn lẻ - một tham số nào đó ở nhà máy wafer trôi lệch, phải tới kiểm thử cuối cùng mới lộ ra. Nhưng hai bộ dữ liệu này thường ở hệ thống khác nhau, định dạng khác nhau, thậm chí công ty khác nhau (dữ liệu của hãng fabless đến từ nhà gia công và nhà đóng gói kiểm thử). Nối chúng lại làm phân tích liên kết thì mới có cơ hội tìm ra nguyên nhân gốc thật sự.

Phương pháp AI và thống kê gồm phân tích dự đoán có AI hỗ trợ, PAT (Part Average Testing, loại các chip bất thường về mặt thống kê nhưng vẫn trong quy cách), GDBN (Good Die in Bad Neighborhood, chip tốt nhưng xung quanh toàn chip hỏng, độ tin cậy đáng ngờ) và phân tích tương quan. Mấy cái này đều là thủ pháp năng suất trưởng thành trong ngành, trọng điểm là thực hiện tự động hóa.

Các tính năng khác gồm bảng điều khiển giám sát năng suất và quy trình thời gian thực, phát hiện lỗi tự động và phân tích nguyên nhân gốc, so sánh xuyên lô và xuyên nhà máy, hợp nhất wafer đa chiều, bộ máy luồng công việc và quy tắc tùy chỉnh, tích hợp với MES/ERP/QMS, cùng triển khai đám mây, tại chỗ hoặc lai.

Khách hàng trải khắp hãng thiết kế fabless, IDM, nhà gia công wafer, nhà đóng gói kiểm thử, hãng thiết bị kiểm thử và hãng dịch vụ kỹ thuật sản phẩm, lĩnh vực ứng dụng từ quang điện tử, MicroLED, ASIC, MEMS tới ô tô và hàng không vũ trụ.

Các hãng thiết kế fabless ở Việt Nam đặc biệt phù hợp để suy ngẫm đề tài này - dữ liệu năng suất của bạn rải rác ở nhà gia công, nhà đóng gói kiểm thử và chương trình kiểm thử của chính mình, ai có được bức tranh toàn cảnh?