yieldWerx

wafer မှ ပြီးဆုံးထုတ်ကုန်စမ်းသပ်မှုအထိ အထွက်နှုန်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု platform၊ ချို့ယွင်းချက်၏ ဇစ်မြစ်ကို တူးဖော်ပေးသည်

Contact for pricing United States

yieldWerx သည် semiconductor အထွက်နှုန်းစီမံခန့်ခွဲမှုနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု platform ဖြစ်ပြီး၊ wafer ထုတ်လုပ်ခြင်း၊ probe စမ်းသပ်ခြင်း၊ package နှင့် နောက်ဆုံးစမ်းသပ်ခြင်း အဆင့်အသီးသီးမှ data ကို database တစ်ခုတည်းသို့ စုသိမ်းပြီး၊ အထွက်နှုန်းဆုံးရှုံးမှုပုံစံများကို ရှာဖွေဖော်ထုတ်ပေးသည်။

လုပ်ဆောင်ချက်များနှင့် အသုံးပြုနိုင်သည့်အခြေအနေများ

၎င်း၏ အဓိကတန်ဖိုးမှာ "အဆင့်များကို ဖြတ်ကျော်ခြင်း" ဖြစ်သည်။ semiconductor ၏ အထွက်နှုန်းပြဿနာများသည် တစ်ခုတည်းသောနေရာတွင် မရှိတတ်— wafer စက်ရုံ၏ parameter တစ်ခု ရွေ့သွားခြင်းသည် နောက်ဆုံးစမ်းသပ်ချိန်ကျမှ ပေါ်လာနိုင်သည်။ သို့သော် ဤ data နှစ်ခုမှာ များသောအားဖြင့် စနစ်မတူ၊ format မတူ၊ ကုမ္ပဏီပင်မတူ (fabless ကုမ္ပဏီ၏ data သည် foundry နှင့် OSAT မှလာသည်)။ ၎င်းတို့ကို ချိတ်ဆက်၍ ဆက်စပ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှသာ တကယ့်ဇစ်မြစ်ကို ရှာတွေ့နိုင်သည်။

AI နှင့် စာရင်းအင်းနည်းလမ်းများတွင် AI အထောက်အကူပြု ခန့်မှန်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု၊ PAT (Part Average Testing— စာရင်းအင်းအရ ပုံမှန်မဟုတ်သော်လည်း သတ်မှတ်ချက်အတွင်းရှိသော chip များ ဖယ်ရှားခြင်း)၊ GDBN (Good Die in Bad Neighborhood— chip ကောင်းသော်လည်း ပတ်ဝန်းကျင်အားလုံးပျက်နေသဖြင့် ယုံကြည်စိတ်ချရမှု သံသယရှိသည်) နှင့် ဆက်စပ်မှုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း ပါဝင်သည်။ ဤအရာများသည် စက်မှုလုပ်ငန်းတွင် ရင့်ကျက်ပြီးသား အထွက်နှုန်းနည်းလမ်းများဖြစ်ပြီး အဓိကမှာ အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်ခြင်းဖြစ်သည်။

အခြားလုပ်ဆောင်ချက်များတွင် အချိန်နှင့်တစ်ပြေးညီ အထွက်နှုန်းနှင့် process စောင့်ကြည့်ရေး dashboard၊ အလိုအလျောက်ချို့ယွင်းချက်ရှာဖွေခြင်းနှင့် ဇစ်မြစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း၊ batch ကြားနှင့် စက်ရုံကြားနှိုင်းယှဉ်ခြင်း၊ multi-dimensional wafer ပေါင်းစည်းခြင်း၊ စိတ်ကြိုက်ချိန်ညှိနိုင်သော workflow နှင့် rule engine၊ MES/ERP/QMS နှင့် ပေါင်းစပ်ခြင်း၊ cloud, on-premise သို့မဟုတ် hybrid deployment တို့ ပါဝင်သည်။

client များတွင် fabless ဒီဇိုင်းကုမ္ပဏီ၊ IDM, foundry, OSAT, စမ်းသပ်စက်ကိရိယာထုတ်လုပ်သူနှင့် product engineering ဝန်ဆောင်မှုပေးသူများ ပါဝင်ပြီး၊ အသုံးချနယ်ပယ်များမှာ photoelectric, MicroLED, ASIC, MEMS မှ automotive နှင့် aerospace အထိ လွှမ်းခြုံသည်။

ထိုင်ဝမ်ရှိ fabless ဒီဇိုင်းကုမ္ပဏီများ ဤအကြောင်းအရာကို အထူးစဉ်းစားသင့်သည်— သင့်အထွက်နှုန်း data များ TSMC, ASE နှင့် ကိုယ်ပိုင်စမ်းသပ်ပရိုဂရမ်တွင် ပြန့်ကားနေသည်၊ မည်သူ့တွင် ပုံရိပ်တစ်ခုလုံးရှိသနည်း။

အဓိက အင်္ဂါရပ်များ

  • wafer ထုတ်လုပ်ခြင်း၊ probe, package နှင့် နောက်ဆုံးစမ်းသပ်မှု data ကို ပေါင်းစည်းခြင်း
  • AI အထောက်အကူပြု ခန့်မှန်းအထွက်နှုန်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု
  • PAT, GDBN စသည့် စက်မှုသုံးအထွက်နှုန်းနည်းလမ်းများ အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်ခြင်း
  • အချိန်နှင့်တစ်ပြေးညီ အထွက်နှုန်းနှင့် process စောင့်ကြည့်ရေး dashboard
  • batch ကြား၊ စက်ရုံကြားနှိုင်းယှဉ်ခြင်းနှင့် multi-dimensional wafer ပေါင်းစည်းခြင်း
  • စိတ်ကြိုက် workflow နှင့် rule engine
  • MES, ERP, QMS ပေါင်းစပ်ခြင်း၊ cloud/on-premise/hybrid deployment

အားသာချက်များ

  • ထုတ်လုပ်မှုအဆင့်များကို ဖြတ်၍ ပေါင်းစည်းသဖြင့် တစ်နေရာတည်းတွင် မမြင်နိုင်သောဇစ်မြစ်ကို ရှာတွေ့နိုင်သည်
  • PAT, GDBN စသည့် ရင့်ကျက်နည်းလမ်းများ အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်သဖြင့် ကိုယ်တိုင် script ရေးရန်မလို
  • deployment နည်းလမ်း ပြောင်းလွယ်ပြီး data ကိုင်တွယ်လိုအပ်ချက်ကို ဖြေရှင်းလွယ်သည်

အားနည်းချက်များ

  • စျေးနှုန်း အများသို့ ထုတ်ဖော်မထား
  • တန်ဖိုးသည် foundry နှင့် OSAT ပိုင်း data ရနိုင်မှုအပေါ် အလွန်မူတည်ပြီး၊ ဤသည်မှာ နည်းပညာပြဿနာမဟုတ်ဘဲ စီးပွားရေးညှိနှိုင်းမှုပြဿနာဖြစ်တတ်သည်
  • semiconductor မဟုတ်သော စက်မှုလုပ်ငန်းများ အသုံးမပြုနိုင်

အသုံးပြုမှုများ

  • fabless ဒီဇိုင်းကုမ္ပဏီများက foundry နှင့် OSAT ပိုင်း အထွက်နှုန်း data ပေါင်းစည်းခြင်း
  • automotive chip ၏ PAT ပုံမှန်မဟုတ်သော chip ဖယ်ရှားခြင်း
  • batch ကြား အထွက်နှုန်းကျဆင်းမှု၏ ဇစ်မြစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း
  • product အသစ်စတင်ကာလ၏ အထွက်နှုန်းတက်လာမှု ခြေရာခံခြင်း

အယ်ဒီတာမှတ်ချက်

အထွက်နှုန်းသည် semiconductor လုပ်ငန်း၏ တစ်ခုတည်းသော အမှန်တကယ်အရေးကြီးသောကိန်းဂဏန်းဖြစ်သော်လည်း data ပိုင်ဆိုင်မှုမှာ supply chain တစ်လျှောက်လုံးတွင် ပြန့်ကားနေသည်။ ထိုင်ဝမ်ရှိ IC ဒီဇိုင်းကုမ္ပဏီများသည် ဤကိစ္စတွင် အနည်းငယ်ခံနေရသည်— သင်ပိုက်ဆံပေး၍ လုပ်ထားသော chip ၏ data သည် သင်၏ လုံးဝမဟုတ်ပါ။ ဤ tool မျိုးမစတင်မီ စာချုပ်ထဲရှိ data စည်းကမ်းချက်ကို တစ်ခေါက်ကြည့်ပါ၊ ၎င်းက tool ရွေးခြင်းထက် ပိုအရေးကြီးနိုင်သည်။

မေးလေ့ရှိသောမေးခွန်းများ

fabless ဒီဇိုင်းကုမ္ပဏီများ foundry ၏ data ရနိုင်သလား။

ဤသည်မှာ အလက်တွေ့ကျဆုံးပြဿနာဖြစ်ပြီး များသောအားဖြင့် နည်းပညာကန့်သတ်ချက်မဟုတ်ဘဲ စီးပွားရေးသဘောတူညီချက်ဖြစ်သည်။ စတင်အသုံးမပြုမီ သင်နှင့် foundry, OSAT ၏ data ဖလှယ်ရေးစည်းကမ်းချက်များတွင် မည်သည့် field များ၊ မည်သည့်ကြိမ်နှုန်း ပါဝင်သည်ကို ဦးစွာအတည်ပြုသင့်သည်။ tool မည်မျှကောင်းစေကာမူ data မရှိလျှင် ဘာမှခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာနိုင်မည်မဟုတ်။

PAT နှင့် ရိုးရိုးသတ်မှတ်ချက်စမ်းသပ်ခြင်း ဘာကွာသနည်း။

ရိုးရိုးစမ်းသပ်ခြင်းက "သတ်မှတ်ချက်ကျော်လွန်သလား" ဖြစ်ပြီး၊ PAT က "တူညီ batch ၏ စာရင်းအင်းဖြန့်ဝေမှုမှ သွေဖည်သလား" ဖြစ်သည်။ chip အချို့သည် parameter အားလုံး သတ်မှတ်ချက်အတွင်းရှိသော်လည်း ထင်ရှားစွာ ပုံမှန်မဟုတ်သောတန်ဖိုးဖြစ်ကာ ကာလရှည်ယုံကြည်စိတ်ချရမှု ညံ့သည်။ automotive နှင့် aerospace သည် ချို့ယွင်းနှုန်းအပေါ် အလွန်တင်းကြပ်သဖြင့် PAT ကို ပုံမှန်လုပ်ဆောင်ကြသည်။

သက်ဆိုင်ရာ AI ကိရိယာများ

繁體中文版 →