DR Yield

DR Yield 是一套專為半導體製造廠（fab）設計的良率管理軟體，結合人工智慧驅動的分析引擎與即時晶圓圖視覺化功能，協助工程師快速偵測與定位製程異常。系統會自動從大量製程資料中抽取關鍵指標，並以機器學習模型預測良率走勢，讓使用者在問題尚未擴散前即能介入調整。透過直觀的異常偵測與圖形化的晶圓分布圖，DR Yield 能把原本散落在各個資料庫的資訊整合成一個可操作的儀表板，縮短分析時間、降低人為判斷的錯誤率。

解決什麼問題

半導體製程的良率波動往往隱藏在龐雜的測試資料與製程參數之中，傳統手動比對與統計方法不僅耗時，且容易遺漏微小異常。DR Yield 以 AI 解析大量歷史與即時資料，主動標示出異常區域與潛在根因，協助製程工程師在早期即發現問題，減少不良晶圓的產出與成本損失。對於需要嚴格品質管控、追求產能最大化的先進製程廠，這套軟體提供了從資料收集、分析到決策的完整解決方案。

適合誰、怎麼用

• 製程工程師：可直接在儀表板上檢視晶圓圖、設定異常偵測門檻，快速定位問題根源。
• 良率分析師：利用 AI 模型產出的預測報告，制定改善方案與長期良率趨勢規劃。
• 管理層：透過即時 KPI 看板，掌握產線健康狀態，支援策略決策。

使用時，只需將 fab 現有的測試資料匯入系統，系統即會自動建構晶圓圖與異常模型，使用者可依需求自訂報表或設定警示，整合於日常作業流程中。